產(chǎn)品中心
Products光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡 掃描電鏡
特點(diǎn)
緊湊型設(shè)計(jì)，分辨率為4 nm*1
通過高靈敏度二次電子探測(cè)器，背散射探測(cè)器，低真空探測(cè)器（UVD*2），實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
操作簡(jiǎn)捷，即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
新開發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」，便于快速鎖定視野
大窗口（30 mm2）SDD能譜系統(tǒng)，便于快速分析元素成分*2
規(guī)格
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項(xiàng)目 |
內(nèi)容 |
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分解能*3 |
4.0 nm @ 20 kV （SE：高真空模式） |
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加速電壓 |
0.3 kV ～ 20 kV |
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放大倍率 |
6× ～ 300,000× （底片倍率） |
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低真空模式 |
真空范圍：6 ～ 100 Pa |
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電子槍 |
預(yù)對(duì)中鎢燈絲 |
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樣品臺(tái) |
3-軸自動(dòng)馬達(dá)臺(tái) |
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最大樣品尺寸 |
直徑80 mm |
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最大樣品高度 |
40 mm |
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尺寸 |
主機(jī)：450（W） x 640（D） x 670（H） mm |
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探測(cè)器選配 |
· 高靈敏度低真空二次電子探測(cè)器（UVD） · 能量分散型X線探測(cè)器（EDS） |
